Merlin FE-SEM

Merlin FE-SEM

ZEISS Merlin комбинира бърз анализ, висока резолюция, разнообразни детектори и възможност за модификация на базовата конфигурация. С предварително юстираната Gemini II оптическа система, предоставя възможност за нагласяване на параметри като волтаж или напрежение в граници от няколко порядъка. Модуларната камера и големият брой портове позволяват добавянето на много и разнообразни външни модули като AFM, in situ микротом, Raman и др.

Възможни приложения

  • Научни лаборатории

Технически Спецификации

  • Сканиращ електронен микроскоп с полева емисия и големи аналитични възможности (12 – 2 000 000х)/(0.8 nm @ 15 kV)
  • Gemini II оптическа колона
  • Модуларна камерна система с над 15 порта с възможност за използване на aSTEM, 5-сегментен BSE детектор 4QBSD, EBSD, EDS, WDS, CCD камера с IR осветление
  • 3DSM, AFM, Cryo, Raman, Plasma Cleaner
  • Оптимална продуктивност на комплексни анализи с EDS/WDS/EBSD

Брошура

Повече информация

Производител:

Merlin FE-SEM